通过平板探测器获取大量不同角度被测对象受X射线照射后的断层扫描图像，再将这些图像按照重建算法重构得到完整的三维数模，最终利用分析软件对测得的三维模型进行处理解析，获取全面的产品内外质量数据，有效地反映出内部结构，缺陷形状/尺寸及分布位置情况等信息。

仪器特点：

1、微焦点X射线管最小焦点尺寸0.007mm

2、分辨率(ISO15708)最大空间分辨率，调辐度传递10%

3、球心距误差（SD）(4.0+L/100)um

4、长度测量误差（E）(8.0+L/100)um

5、X/Y/Z轴行程：700mm*270mm*270mm

6、温度：18°C ～ 22° C  

7、湿度：40 % ～ 70 %

样品形态：块体

样品尺寸：标准件：50*50*厚（2-至200mm视材料而定）、非标件：50*宽小于50mm *厚小于200mm

样品数量：6pcs（客户要求测试数量）

1.样品的内部结构，内部缺陷分析

2.样品的数字切片分析

3.样品外形三维轮廓

4.样品内部和外部结构尺寸测量

参数视扫描样品而定