剖面密度测量仪（DENSE-LAB，德国EWS公司），Dense-Lab Mark3采用X射线测量原理，步进电机以0.1mm/s的速度将50mm*50mm的试样送入测量仪，通过X射线沿厚度方向扫描测量出板材在横截面方向上密度分布状况；并将测量及分析结果以图形和数据的形式直观地显示在电脑屏幕上；同时在计算机内部存储或通过打印输出。同时，设备配备高档的计算机处理系统，先进的PiperWare软件和Windows操作系统，可实现网络化工作。

主要用途：

测量垂直于试样表面方向的密度梯度，并将测量结果及分析以数据和图形的形式显示在电脑屏幕上，分析和优化板材剖面密度梯度变化，检验和分析产品性能指标，调整并改善热压工艺曲线及铺装系统。

设备参数：

测量范围：0-1800kg/m3

扫描速度：可调，标准0.1m/sec(50ft/min)

精度：平均密度的±0.05%

数据输出接口：RS232接口和Centronics

板材种类：MDF，HDF，PB，OSB等

软件系统：提供多项数据分析结果和多达12条剖面密度曲线同时显示

样品形态：块体

样品尺寸：标准件：50*50*厚（5-至30mm）非标件：50*宽小于50mm*厚小于200mm

样品数量：由板材厚度决定，没有固定限制